Atominės jėgos mikroskopas
Atominės jėgos mikroskopas (AJM – angl. AFM) – labai aukštos rezoliucijos skenuojančio zondo mikroskopas. AJM yra vienas iš svarbiausių įrenginių vaizduojant, matuojant arba manipuliuojant nano matmenų medžiagas. Informacija yra surenkama jaučiant paviršių su mechaniniu zondu.
Darbo režimai redaguoti
Yra keli atominės jėgos mikroskopo darbo režimai:[1]
- kontaktinis
- nekontaktinis
- dinaminio kontaktavimo
Šaltiniai redaguoti
|
Šis straipsnis apie fiziką yra nebaigtas. Jūs galite prisidėti prie Vikipedijos papildydami šį straipsnį. |