Atominės jėgos mikroskopas

Atominės jėgos mikroskopas (AJM – angl. AFM) – labai aukštos rezoliucijos skenuojančio zondo mikroskopas. AJM yra vienas iš svarbiausių įrenginių vaizduojant, matuojant arba manipuliuojant nano matmenų medžiagas. Informacija yra surenkama jaučiant paviršių su mechaniniu zondu.

Atominės jėgos mikroskopas kairėje su jį valdančiu kompiuteriu dešinėje.

Darbo režimaiKeisti

Yra keli atominės jėgos mikroskopo darbo režimai:[1]

  • kontaktinis
  • nekontaktinis
  • dinaminio kontaktavimo

ŠaltiniaiKeisti